Mikroskopie

Elektronenmikroskopie

- Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Feldemissions-
  Rasterelektronenmikroskopie (FE-REM) mit diversen 
  Probenvorbereitungstechniken, u.a. (Kryo)-Mikrotomie, Einbettung, 
  Schleifen, Polieren, Kryo-Bruch, selektive Ätzung
- Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) mit diversen 
  Probenvorbereitungstechniken, u.a. (Kryo)-Ultramikrotomie, 
  Kontrastierverfahren
- Röntgenmikroanalyse (EDX) am REM und TEM
- TEM-EELS
- Kryo-TEM
- Analytisches TEM mit höchster Auflösung (HR-TEM, 200 kV 
  Feldemission, Auflösung bis 1,2 Angström), mit STEM-Zusatz und 
  HAADF-Detektor
- Elektronenbeugung, Bestimmung von Gitterkonstanten
- Teilchengrößenverteilungen
- Primärpartikelgrößenbestimmung (nach ASTM, Bildauswertung mittels 
  Partikelgrößenzählgerät TGZ)
- Aggregatgrößenverteilungen und Klassifizierungsanalysen
- Plasmapräparationstechniken
- Digitale Bildverarbeitung und -dokumentation

Lichtmikroskopie

- Lichtmikroskopie (Auf-/Durchlicht, Polarisation, Heiztisch, Fluoreszenz) 
- Digitalmikroskopie mit variablen Beleuchtungswinkeln und Ringleuchten
- Digitale Bildverarbeitung und –dokumentation
- Lasergestütztes Oberflächenprofilometer (2- und 3-D-Messungen

Rasterkraftmikroskopie (AFM)

- Bestimmung der Struktur und Rauhigkeit von Oberflächen
- Contact-Modus
- Non-Contact-Modus
- Phasenkontrast-Modus
- Tapping-Modus
- Nanoindentation
- Oberflächenleitfähigkeit