Oberflächen und Grenzflächen

Festkörper-Oberflächenanalysen

- Elektronenspektroskopie für die chemische Analyse (ESCA / XPS) 
  auch mit Reduktions- und/oder Temperaturvorbehandlung, Cryo-XPS, 
  Monochromatisierte XPS (M-XPS) 
- Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS)
- Ionenstreuspektroskopie (ISS)
- Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie (SNMS)
- Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS, statisch und dynamisch) 
- Augerelektronenspektroskopie (AES) / Scanning Auger Mikroskopie (SAM)
- Tiefenprofilanalysen mittels XPS, SSXPS, SIMS
- Ortsaufgelöste small spot XPS (SSXPS)
- XPS zur Bestimmung der Elektrostatik von Pulvern
- Physisorption (Gassorption: BET-Oberflächen, Mikroporenvolumen, 
  Mesoporenvolumenverteilung (BJH)) 
- Chemisorption (Puls- und volumetrische Methode)
- Wasserdampfsorption
- Quecksilber-Porosimetrie (Porengrößenverteilung (Meso-, Makroporen))
- TPD/TPR/TPO: temperaturprogrammierte Desorption / Reduktion / Oxidation
- Benetzbarkeit / Benetzungswirkung an ebenen Oberflächen, Fasern, Pulvern
- Kontaktwinkel, Oberflächenenergien
- Zetapotential (optisches, akustisches Verfahren)
- Silanolgruppendichte
- Lasergestütztes Oberflächenprofilometer (2- und 3-D-Messungen)

Grenzflächenanalysen an Flüssigkeiten

- Ober-/Grenzflächenspannung (Ring-, Platten-, Tropfen-Volumen-, 
  Spinning-Drop-Verfahren)
- Kritische Micellbildungs-Konzentration (CMC)

Rasterkraftmikroskopie (AFM)

- Bestimmung der Oberflächenrauhigkeit
- Contact-Modus
- Non-Contact-Modus
- Tapping-Modus
- Phasenkontrast-Modus
- Nanoindentation
- Oberflächenleitfähigkeit